X 射线检测仪：利用 X 射线穿透物体，检测无盘圈线的内部结构和缺陷。
超声波检测仪：通过超声波在物体中的传播和反射，检测无盘圈线的完整性和缺陷。
磁粉检测仪：利用磁粉在磁场中的分布，检测无盘圈线表面的裂纹和缺陷。
涡流检测仪：通过涡流在物体中的感应，检测无盘圈线的导电性和缺陷。
光学显微镜：用于观察无盘圈线的表面形貌和微观结构。
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中析研究所
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