电子显微镜：可用于观察位错线的形态、分布和交截情况。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构，确定位错线的存在和性质。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于观察位错线。
光学显微镜：在某些情况下，也可以用于初步观察位错线的交截。
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中析研究所
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