原子力显微镜：用于观察和分析位错攀移的微观结构和形貌。
扫描电子显微镜：可以提供高分辨率的图像，用于观察位错攀移的表面特征。
透射电子显微镜：能够揭示位错攀移的内部结构和原子排列。
X 射线衍射仪：用于分析位错攀移引起的晶体结构变化。
电子背散射衍射仪：可确定位错攀移的晶体取向和晶体结构。
硬度测试仪：测量材料的硬度，间接反映位错攀移对材料性能的影响。
拉伸试验机：用于评估位错攀移对材料力学性能的影响。
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中析研究所
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