X 射线衍射仪：通过测量晶体对 X 射线的衍射图案，分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量材料表面的形貌和力学性质，也可以检测位错。
同步辐射光源：提供高强度的 X 射线，可用于高精度的位错分析。
中子衍射仪：利用中子与物质的相互作用来研究材料的结构和缺陷。
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中析研究所
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