电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：用于测定钍粉中的多种元素含量。
X 射线荧光光谱仪（XRF）：可对钍粉进行定性和定量分析。
原子吸收光谱仪（AAS）：用于检测钍粉中的金属元素。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察钍粉的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射仪（XRD）：分析钍粉的晶体结构。
激光粒度分析仪：测量钍粉的粒度分布。
比表面积分析仪：测定钍粉的比表面积。
热重分析仪（TGA）：研究钍粉的热稳定性。
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中析研究所
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