外延缺陷检测是对半导体外延层中的缺陷进行检测和分析，以确保外延层的质量和性能符合要求。以下是一些常见的外延缺陷检测项目：
光学显微镜检测：通过光学显微镜观察外延层表面的形貌和缺陷。
扫描电子显微镜（SEM）检测：提供更高分辨率的表面形貌图像，可检测微小缺陷。
原子力显微镜（AFM）检测：用于测量外延层表面的微观形貌和粗糙度。
X 射线衍射（XRD）检测：分析外延层的晶体结构和晶格缺陷。
光致发光（PL）检测：检测外延层中的发光缺陷和杂质。
电致发光（EL）检测：评估外延层的发光性能和缺陷。
二次离子质谱（SIMS）检测：分析外延层中的杂质成分和分布。
俄歇电子能谱（AES）检测：检测外延层表面的元素组成和化学状态。
四点探针电阻测试：测量外延层的电阻率，评估电性能。
霍尔效应测试：确定外延层的载流子浓度和迁移率。
电容-电压（C-V）测试：分析外延层中的电荷分布和缺陷。
深能级瞬态谱（DLTS）测试：检测外延层中的深能级缺陷。
热激电流（TSC）测试：评估外延层中的陷阱密度和能量分布。
激光散射（LS）检测：检测外延层中的颗粒和缺陷。
拉曼光谱（Raman）检测：分析外延层的晶体结构和应力。
红外吸收光谱（IR）检测：检测外延层中的化学键和杂质。
外延层厚度测量：使用光学或机械方法测量外延层的厚度。
外延层均匀性测试：评估外延层在整个晶片上的厚度和性能均匀性。
缺陷密度统计：确定外延层中缺陷的数量和密度。
缺陷类型鉴定：识别外延层中不同类型的缺陷，如位错、层错等。
外延层质量评估：综合考虑各种检测结果，对外延层的质量进行评估。
可靠性测试：如高温、高湿、高压等条件下的测试，评估外延层的稳定性和可靠性。
工艺优化研究：通过检测结果反馈，优化外延生长工艺。
失效分析：对外延层失效的原因进行分析和诊断。
质量控制：在生产过程中进行外延缺陷检测，确保产品质量。
研发支持：为外延材料的研发提供检测和分析数据。
客户验收：满足客户对外延层质量的要求和验收标准。
