1. 电子显微镜（SEM）：能够观察锗硅合金的表面形貌和微观结构。
2. X射线衍射（XRD）仪：用于确定锗硅合金的晶体结构和晶格常数。
3. 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析锗硅合金的化学成分和物质结构。
4. 能量色散X射线光谱仪（EDS）：可以检测锗硅合金中的元素组成和含量。
5. 热重分析仪（TGA）：用于测量锗硅合金的热稳定性和材料性质。
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中析研究所
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