1. 光学显微镜：用于检测支架踏板护罩的表面缺陷，如划痕、裂纹和氧化等。
2. 金相显微镜：可用于支架踏板护罩的金相组织观察，检测材料的晶粒大小、相界和组织均匀性等。
3. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察支架踏板护罩的微观形貌，检测表面粗糙度、孔隙和颗粒等。
4. 能谱仪（EDS）：与SEM配合使用，用于支架踏板护罩的成分分析，检测材料中各种元素的含量和分布。
5. 萤光显微镜：可用于支架踏板护罩的物理性能检测，如硬度测量、断口分析和材料疲劳性能评估。
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