1. 电子天平：用于测量样品的质量，从而计算渣损的百分比。
2. 加热设备：例如烘箱、炉子等，用于将样品加热以去除其中的挥发物和水分。
3. 筛分装置：用于将样品进行筛分，以分离出不同粒度的颗粒。
4. 显微镜：用于观察样品中的颗粒形态和组成。
5. X射线衍射仪（XRD）：用于分析样品中的晶体结构和相含量。
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中析研究所
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