1. X射线衍射仪（XRD）：用于确定晶格参数和晶胞结构。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察晶体表面形貌和微观结构。
3. 透射电子显微镜（TEM）：用于观察晶体的晶格结构和原子分布。
4. 原子力显微镜（AFM）：用于获取晶体表面的原子级拓扑信息。
5. 热膨胀仪（TMA）：用于测量晶体的热胀冷缩性质。
6. 拉曼光谱仪：用于分析晶体的分子振动信息。
7. 磁力显微镜：用于观察晶体的磁性行为和磁结构。
8. 电子自旋共振仪（ESR）：用于研究晶体材料的自由基行为和磁性性质。
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中析研究所
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