细晶体检测-检测仪器
X 射线衍射仪:用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜:可观察晶体的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜:用于高分辨率的晶体结构分析。
原子力显微镜:能对晶体表面进行纳米级别的成像和测量。
拉曼光谱仪:可提供关于晶体分子振动和结构的信息。
热重分析仪器:用于研究晶体的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热仪:可分析晶体的相变和热性能。
X 射线荧光光谱仪:用于元素分析和晶体成分鉴定。
光学显微镜:用于初步观察晶体的形态和特征。
硬度计:可测量晶体的硬度。