电子显微镜：可用于观察和分析细晶粒结构的形貌、尺寸和分布。
X 射线衍射仪：用于分析细晶粒结构的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于观察细晶粒的形态和分布。
原子力显微镜：可以对细晶粒表面进行高分辨率的形貌和力学性能测量。
光学显微镜：在较低放大倍数下可观察细晶粒的整体结构。
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中析研究所
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