X 射线探伤仪：用于检测金属、非金属材料及其制品的内部缺陷。
超声波探伤仪：可检测材料的内部缺陷、厚度等。
磁粉探伤仪：检测铁磁性材料表面和近表面缺陷。
渗透探伤剂：用于检测非多孔性材料表面开口缺陷。
涡流探伤仪：检测导电材料表面和近表面缺陷。
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中析研究所
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