电子显微镜：用于观察和分析材料的微观结构，包括位错边界。
X 射线衍射仪：可以确定材料的晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：用于测量材料表面的形貌和力学性质，也可以用于检测位错边界。
扫描隧道显微镜：可以提供原子级别的分辨率，用于观察位错边界的细节。
光学显微镜：虽然分辨率较低，但在一些情况下也可以用于观察位错边界。
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中析研究所
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