激光粒度分析仪：通过测量颗粒的散射光强度来确定颗粒的大小分布。
电子显微镜：可直接观察样品的微观结构，包括颗粒的形状、大小和分布。
原子力显微镜：用于测量样品表面的形貌和粗糙度，可检测到微小的不均匀性。
X 射线衍射仪：分析样品的晶体结构，可检测到晶体的缺陷和不均匀性。
荧光显微镜：可用于检测样品中的荧光标记物，以确定其分布和不均匀性。
色谱仪：用于分离和分析样品中的化学成分，可检测到成分的不均匀性。
质谱仪：分析样品中的化学成分，可检测到微量的不均匀性。
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中析研究所
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