X 射线衍射仪：通过测量材料中晶体的衍射图案来分析晶体结构和应力分布。
电子背散射衍射仪：用于分析材料表面的晶体取向和应变分布。
中子衍射仪：利用中子与物质的相互作用来测量材料内部的应力分布。
拉曼光谱仪：通过测量材料的拉曼散射光谱来分析材料的应力状态。
超声检测仪：利用超声波在材料中的传播特性来检测材料中的应力分布。
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中析研究所
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