X 射线衍射仪：用于分析外壳层的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：可观察外壳层的表面形貌和微观结构。
能谱仪：用于元素分析，确定外壳层中的化学成分。
红外光谱仪：分析外壳层中的有机官能团。
热重分析仪：研究外壳层的热稳定性和分解过程。
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中析研究所
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