分光光度计：用于测量样品对不同波长光的吸收程度，从而获得透射图。
X 射线衍射仪：可用于分析晶体结构和物相组成，也可用于获取透射图。
电子显微镜：包括透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM），可用于观察样品的微观结构和形貌，获取透射图。
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中析研究所
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