1. 三坐标测量仪：用于测量正半锥体的尺寸、形状和位置等参数，可以精确测量其高度、底面半径和锥角等。
2. 光学投影仪：通过光电测量方法对正半锥体进行投射测量，可以获得其底面形状、轮廓曲线等信息。
3. 表面粗糙度测量仪：用于测量正半锥体表面的粗糙度，可以评估其表面光滑度。
4. 光谱仪：用于分析正半锥体材料的成分和化学组成，可以进行材料鉴定和质量检测。
5. 强度测试机：用于测量正半锥体的强度和刚度，可以评估其力学性能。
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