占阵取向检测是通过测量材料中晶粒的取向分布来分析晶体的取向性和取向分布情况的一种检测方法。
常用的仪器有：
1. X射线衍射仪：通过对材料进行X射线衍射分析，可以得到材料的晶体结构和晶格常数，进而通过分析晶格常数的偏差大小来评估材料的取向性。
2. 电子后向散射显微镜（EBSD）：利用电子束在材料表面和界面产生的散射来获取材料的晶体取向信息。
3. 应力磁传感器：通过测量材料中的应力分布来间接评估材料的取向性。
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中析研究所
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