扫描电子显微镜（SEM）：用于对渣化表面进行高分辨率的图像观察和分析，可以获取样品表面的形貌和微观结构信息。
能谱仪（EDS）：与SEM配套使用，用于分析样品中元素的成分和分布情况，可以提供元素定性和定量分析。
原子力显微镜（AFM）：可以对样品表面的形貌、粗糙度、力学性质等进行高分辨率的原子力成像和力学测试。
红外光谱仪（FTIR）：用于检测样品中的化学键和分子结构信息，可以提供样品的有机物含量、异物鉴定等。
热重分析仪（TGA）：通过连续记录样品随温度变化的重量变化，可以分析样品的热稳定性、热分解特性等。
X射线衍射仪（XRD）：用于分析样品的晶体结构和晶相组成，可以提供样品的结晶度、晶格参数等。
