羽状锡检测通常用于检测锡粉的纯度和颗粒形状。
常用的仪器有：
1. 扫描电子显微镜（SEM）：通过聚焦的电子束对锡粉进行扫描，得到高放大的锡粉表面形貌图像，可以观察到锡粉的颗粒形状、大小等信息。
2. X射线衍射仪（XRD）：利用锡晶体的结构对入射的X射线进行衍射，从而获得锡粉的晶体结构和纯度信息。
3. 气相色谱仪-质谱联用仪（GC-MS）：用于分析锡粉中可能存在的有机污染物，以及锡粉的化学成分和纯度。
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中析研究所
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