X 射线衍射仪：用于确定硒化锡的晶体结构。
扫描电子显微镜：可以观察硒化锡的表面形貌和微观结构。
能谱仪：用于分析硒化锡中的元素组成。
紫外-可见分光光度计：可用于检测硒化锡的光学性质。
热重分析仪：用于研究硒化锡的热稳定性。
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中析研究所
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