X 射线衍射仪：用于分析钨铁矿的晶体结构。
电子探针：可对钨铁矿进行微区成分分析。
电感耦合等离子体发射光谱仪：用于检测钨铁矿中的多种元素含量。
扫描电子显微镜：可观察钨铁矿的表面形貌和微观结构。
X 射线荧光光谱仪：能快速测定钨铁矿中的元素组成。
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中析研究所
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