扫描电子显微镜：可以对样品表面进行高分辨率成像，用于观察位垒的形状和结构。
原子力显微镜：能够提供原子级别的分辨率，用于检测位垒的表面形貌和高度分布。
X 射线衍射仪：可用于分析晶体结构，确定位垒的晶体取向和晶格参数。
光学显微镜：适用于对较大尺寸的位垒进行初步观察和分析。
电子束探针：可以测量位垒的成分和化学状态。
拉曼光谱仪：用于分析位垒的分子结构和化学键。
扫描隧道显微镜：能够提供原子级别的分辨率，用于检测位垒的表面形貌和电子结构。
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中析研究所
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