X 射线衍射仪：通过分析晶体结构来确定位错的存在和类型。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于研究材料表面的微观结构，包括位错。
光学显微镜：在位错密度较高时，可以观察到位错的存在。
扫描探针显微镜：提供高分辨率的表面形貌信息，有助于检测位错。
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中析研究所
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