电子显微镜：用于观察样品的微观结构和表面特征，可检测网脉凸疤的形态、大小和分布等。
X 射线衍射仪：用于分析样品的晶体结构，可检测网脉凸疤中是否存在晶体缺陷或杂质。
红外光谱仪：用于分析样品的化学键和官能团，可检测网脉凸疤中是否存在特定的化学键或官能团。
热重分析仪：用于分析样品的热稳定性和热分解行为，可检测网脉凸疤在不同温度下的质量变化。
扫描探针显微镜：用于观察样品的表面形貌和物理性质，可检测网脉凸疤的表面粗糙度、硬度等。
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中析研究所
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