X 射线衍射仪：可用于检测材料中的晶体结构和缺陷，包括弯曲裂纹。
光学显微镜：可用于观察材料表面的微观结构，包括弯曲裂纹的形态和分布。
扫描电子显微镜：可用于观察材料表面的微观结构，包括弯曲裂纹的形态和分布。
超声波检测仪：可用于检测材料中的内部缺陷，包括弯曲裂纹。
磁粉探伤仪：可用于检测铁磁性材料表面的裂纹和缺陷，包括弯曲裂纹。
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中析研究所
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