X 射线衍射仪：用于分析土壤中矿物质的晶体结构和层理特征。
扫描电子显微镜：可观察土壤颗粒的表面形态和层理结构。
电子探针：能对土壤中的元素进行微区分析，了解其分布和层理情况。
激光粒度分析仪：用于测量土壤颗粒的大小分布，间接反映层理特征。
土壤剖面分析仪：可直接观察和分析土壤的垂直层理结构。
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中析研究所
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