1. 窄射线束检测仪器 - 窄束扫描电子显微镜（Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope）
窄束扫描电子显微镜（FIB-SEM）是一种高分辨率的电子显微镜，可以使用高能离子束对样品表面进行精确刻蚀和切割。它具有非常窄的束斑直径，可以提供高分辨率的成像和表征。FIB-SEM广泛用于材料科学、纳米技术和生物医学等领域的样品表征和分析。
2. 窄射线束检测仪器 - 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）
原子力显微镜（AFM）是一种高分辨率的表征仪器，通过探针的扫描测量样品表面的几何形貌和力学性质。AFM使用一根非常细小的探针，探测力与样品之间的相互作用力，可以实现纳米级别的表面成像和测量。
3. 窄射线束检测仪器 - 散射电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）
散射电子显微镜（SEM）利用电子束与样品相互作用产生的散射电子进行成像和分析。SEM可以提供高分辨率的表面形貌和元素分布信息，适用于各种材料的表征和分析。其窄束斑直径可用于细微结构的表面成像。
4. 窄射线束检测仪器 - 红外光谱仪（Infrared Spectrometer）
红外光谱仪（IR）用于检测物质的红外吸收谱线，可以分析样品中的化学键和功能团，提供了样品的结构和组分信息。红外光谱仪属于非接触式分析仪器，可以用于液体、固体和气体样品的分析。
