原位形核检测是一种常用的检测方法，主要用于检测材料的晶体形态和晶体结构。
1. X射线衍射法：通过使用高能X射线照射待测样品，通过衍射和散射的方式来分析晶体结构和晶格参数。
2. 电子显微镜（SEM）：通过高分辨率的扫描电子显微镜来观察材料的表面形貌和晶体结构。
3. 透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子显微镜来观察材料的截面形貌和晶体结构。
4. 原位X射线吸收光谱（XAS）：通过在材料局部施加外界条件，如温度、气氛等，来研究材料晶格结构和晶体形态的变化。
5. 原位拉曼光谱：通过在材料局部施加压力、温度等条件，利用拉曼光谱仪来研究材料的晶体结构和相变行为。
6. X射线荧光光谱（XRF）：通过测定材料中的荧光谱线来确定样品中元素的类型和含量，从而推断晶体形态和晶体结构。
7. 原位形核实验：通过在一定的条件下进行材料形核实验，观察材料的晶体形态和晶体结构的变化。
