远轨迹检测一般涉及以下仪器：
1. 光学显微镜：用于观察微小的物质颗粒或结构，以检测样品的微观形态特征。
2. 电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），可用于观察样品的超微结构和表面形貌。
3. X射线衍射仪：可以通过分析物质的X射线衍射图谱，推断样品的晶体结构和晶格常数。
4. 红外光谱仪：通过测量样品在红外光谱范围内的吸收、透射或散射，来判断样品的化学组成和分子结构。
5. 核磁共振仪（NMR）：用于研究样品中的原子核和分子间的相互作用，可以确定样品的化学结构和含量。
6. 质谱仪：用于分析样品中的化合物的质量和相对分子量，通过离子化、分离和检测，可以得到样品中各种化合物的相对丰度。
