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元素状态杂质检测-检测仪器

1. 原子吸收光谱仪(AAS):用于元素浓度分析,可以快速准确地测定样品中的金属元素含量。

2. 气相色谱-质谱联用仪(GC-MS):利用气相色谱分离技术和质谱检测技术,可以检测和鉴定样品中的有机污染物和挥发性有机物。

3. 红外光谱仪(IR):用于分析物质的结构和功能基团的存在与否,可以检测样品中的有机化合物和某些无机物。

4. 紫外-可见分光光度计(UV-Vis):用于测定物质的吸收光谱,可以分析样品中的有机物、无机物和某些金属离子。

5. 气相色谱仪(GC):用于分离和分析样品中的有机化合物和无机气体,可以测定它们的相对含量。

6. 液相色谱-质谱联用仪(LC-MS):利用液相色谱分离技术和质谱检测技术,可以检测和分析样品中的有机化合物和无机离子。

7. 能谱仪(SEM-EDS):用于样品表面形貌和元素分布分析,可以检测和定量分析样品表面的元素种类和含量。

8. X射线衍射仪(XRD):用于对固体样品的晶体结构和晶面定向进行分析,可以检测样品中的晶体物质。

9. 质/荧光光谱仪:用于检测有机分子、金属离子和荧光探针等样品的发射和吸收光谱,可以提供样品的荧光强度和发射峰值。

元素状态杂质检测-检测仪器
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。