占阵取向检测是一种用于确定材料晶体的取向分布的方法，常用于金属、陶瓷、塑料等材料的微观结构分析。
检测方法：
1. X射线衍射法：通过照射样品表面的X射线，根据不同晶面的衍射现象来推断晶体的取向分布。
2. 电子背散射衍射法：利用电子束在样品上的透射或背散射过程中发生的衍射现象，确定晶体的取向。
3. 传统光学显微镜观察法：使用偏光显微镜观察样品的光学性质，推断晶体的取向分布。
4. 扫描电子显微镜衍射法：利用扫描电子显微镜观察样品的电子衍射图案，推断晶体取向的分布。
5. 倒摄影法：通过在样品上倒置显微镜，并观察倒影的图像，推断晶体的取向。
