1. X射线荧光光谱仪（XRF）：用于分析杂石中的元素成分，通过照射杂石使其产生X射线，然后通过测量生成的荧光光谱来确定杂石中的元素。
2. 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析杂石中的有机成分，通过测量杂石吸收红外辐射的能量来确定其中的化学成分。
3. 电子显微镜（SEM）：用于观察杂石的形貌和结构，通过扫描电子束与样品交互作用产生的二次电子信号或后向散射电子信号来获取图像。
4. 能谱仪：用于检测杂石中的放射性物质，通过测量放射性物质发出的射线能量来判断其存在和浓度。
5. 气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）：用于检测杂石中的有机化合物，通过将样品中的化合物分离后与电子轰击产生的离子进行质谱分析来鉴定化合物的种类和浓度。
