阵列逻辑检测是指对阵列逻辑集成电路进行的一系列测试和检验，以确保其性能和可靠性。
阵列逻辑检测主要包括以下范围：
1. 功能测试：对阵列逻辑电路的各个功能模块进行测试，确保其能够正确地执行所需的逻辑操作和计算。
2. 电气性能测试：对阵列逻辑电路的电气特性进行测试，包括电压、电流、功耗、时序等参数的测量和分析。
3. 可靠性测试：对阵列逻辑电路进行长时间的工作稳定性测试，以评估其在各种工作条件下的可靠性和耐久性。
4. 故障分析：对阵列逻辑电路中出现的故障进行定位和分析，找出故障原因并修复。
5. 尺寸和外观检查：对阵列逻辑电路的尺寸、引脚布局和外观进行检查，确保其与设计规格一致。
6. 焊接和连接测试：对阵列逻辑电路的焊接和连接进行测试，确保焊接接口的可靠性和连接的正确性。
7. 可编程性测试：对可编程阵列逻辑（FPGA）进行可编程性测试，包括程序下载和执行、逻辑配置等。
总之，阵列逻辑检测旨在确保阵列逻辑电路的功能和性能符合设计要求，以提高其可靠性和稳定性。
