光学显微镜：用于观察材料的表面形貌和晶粒的分布情况。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和晶粒的分布情况，可以获取更高清晰度的显微图像。
透射电子显微镜（TEM）：用于观察材料的内部结构和晶体缺陷，可以得到高分辨率的显微图像。
X射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构和晶胞参数。
电子背散射衍射仪（EBSD）：用于分析材料的晶体结构和晶界取向。
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中析研究所
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