1. 显微镜：用于观察和分析微观结构和性质。
2. 光谱仪：用于分析材料的光谱特性，包括吸收、发射和散射光谱。
3. 超声波测厚仪：用于测量材料的厚度，是一种非接触性的测量方法。
4. 变电晶体百分比分析仪：用于分析材料中的晶体百分比，可以确定材料的晶体结构。
5. 电子显微镜：用于观察和分析材料的高分辨率图像，可以获得更详细的微观结构信息。
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中析研究所
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