扫描电子显微镜（SEM）：用于观察细线超导体的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射（XRD）：分析细线超导体的晶体结构。
电阻测量：检测细线超导体的电阻特性。
磁性测量：确定细线超导体的磁性性能。
热导率测量：评估细线超导体的热传导性能。
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中析研究所
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