X 射线衍射分析：用于确定细晶石的晶体结构。
电子探针微区分析：可以检测细晶石中的元素组成和含量。
红外光谱分析：有助于分析细晶石中的化学键和官能团。
热重分析：可研究细晶石在加热过程中的质量变化。
扫描电子显微镜：用于观察细晶石的表面形貌和微观结构。
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中析研究所
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