X 射线荧光光谱仪：用于分析锡矿脉中元素的种类和含量。
电子探针：可对锡矿脉中的微小区域进行元素分析。
原子吸收光谱仪：用于检测锡矿脉中特定元素的含量。
电感耦合等离子体发射光谱仪：能同时分析多种元素。
扫描电子显微镜：可观察锡矿脉的微观结构和形貌。
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中析研究所
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