X 射线衍射仪：用于分析吸收剂层的晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：可以观察吸收剂层的表面形貌和微观结构。
比表面积分析仪：用于测定吸收剂层的比表面积。
热重分析仪：可以分析吸收剂层在加热过程中的质量变化，了解其热稳定性。
红外光谱仪：用于分析吸收剂层中的化学键和官能团。
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中析研究所
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