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吸收边检测是一种用于确定材料吸收光谱中吸收边位置的测试方法。以下是一些常用于吸收边检测的仪器:
分光光度计:可测量材料在不同波长下的吸光度,从而确定吸收边的位置。
光谱仪:能够提供更详细的光谱信息,包括吸收边的形状和特征。
X 射线衍射仪:用于检测晶体材料的结构和晶格参数,也可以间接确定吸收边的位置。
光电子能谱仪:通过测量材料表面的电子能谱,来确定吸收边的能量位置。
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