X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相鉴定。
电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），可用于观察微观结构和形貌。
原子力显微镜（AFM）：用于测量表面形貌和力学性质。
热重分析（TGA）：用于研究材料的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热法（DSC）：用于测量材料的热性能，如相变温度和热焓。
动态力学分析（DMA）：用于研究材料的力学性能随温度、频率等因素的变化。
红外光谱仪：用于分析材料的化学键和官能团。
拉曼光谱仪：用于研究材料的分子结构和振动模式。
紫外-可见分光光度计：用于测量材料的吸收光谱和光学性质。
荧光光谱仪：用于研究材料的荧光特性。
