光学显微镜
：用于观察样品的表面形貌和微观结构的仪器。可以检测圆截面样品的外观特征并判断是否存在缺陷或不合格部分。扫描电子显微镜（SEM）
：通过扫描样品表面并利用电子束与样品相互作用产生的信号，获取样品形貌和微观结构的高分辨率图像。可以用于观察圆截面样品的形貌、缺陷和材料组成。光谱仪
：用于检测样品的光吸收、发射、散射等光学性质的仪器。可以分析圆截面样品的材料成分、表面化学组成和物理特性。扫描探针显微镜（SPM）
：利用探针探测样品表面的物理性质，如电荷、力和磁性等，获得样品的高分辨率表面形貌和物理特性数据。适用于圆截面样品的表面形貌和力学特性的检测。压电系数测量仪
：用于测量材料的压电系数，即在施加机械应力或电场时材料产生的电荷量与应力或电场的比例关系。可用于圆截面样品的压电性能检测。