X 射线衍射仪：用于分析五氧化二钨的晶体结构。
扫描电子显微镜：可以观察五氧化二钨的微观形貌。
X 射线荧光光谱仪：用于检测五氧化二钨中的元素组成。
电感耦合等离子体发射光谱仪：可分析五氧化二钨中的微量元素。
热重分析仪：用于研究五氧化二钨的热稳定性。
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中析研究所
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