1. 电子显微镜（SEM）：能够对矿石样品进行高分辨率的表面形貌和元素分布的观察，从而确定是否存在杂质和颗粒物。
2. 能谱仪（EDX）：与SEM一起使用，可以通过元素能谱分析来确定杂质的成分和含量。
3. X射线衍射仪（XRD）：可以用于确定矿石中晶体结构的类型和组成，进而判断是否存在杂质晶体。
4. 红外光谱仪（IR）：通过矿石样品在红外光谱区域的吸收和散射来获取其分子结构信息，以确定是否存在有机杂质。
5. 质谱仪（MS）：能够以高分辨率检测并鉴定矿石样品中的有机和无机物质，用于分析杂质的化学成分。
6. 原子吸收光谱仪（AAS）：可用于分析矿石中的特定金属元素含量，从而确定是否存在金属杂质。
