X 射线衍射仪：通过测量材料中晶体的衍射图谱，分析材料的晶体结构和应力状态。
中子衍射仪：利用中子与材料的相互作用，测量材料中的应力分布。
电子背散射衍射仪（EBSD）：通过分析电子在材料中的散射行为，确定材料的晶体取向和应力分布。
激光干涉仪：用于测量材料表面的位移和应变，从而间接评估应力状态。
超声检测仪：利用超声波在材料中的传播特性，检测材料中的缺陷和应力分布。
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中析研究所
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