X 射线检测仪器：利用 X 射线穿透物体，检测设备内部结构和缺陷。
超声波检测仪器：通过超声波在物体中的传播和反射，检测设备的缺陷和厚度。
磁粉检测仪器：利用磁粉在磁场中的分布，检测设备表面和近表面的缺陷。
渗透检测仪器：通过渗透剂在缺陷中的渗透，检测设备表面开口缺陷。
涡流检测仪器：利用涡流在物体中的感应，检测设备的缺陷和材质。
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中析研究所
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