无位错检测主要应用于晶体材料，用于检测晶体中是否存在位错缺陷。
常见的无位错检测对象包括但不限于：
半导体材料：如硅、锗等。
光电子材料：如 GaAs、InP 等。
超导材料：如 YBCO 等。
金属材料：如铜、铝等。
陶瓷材料：如氧化铝、氧化锆等。
玻璃材料：如光学玻璃等。
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中析研究所
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